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国产DUV光刻机取得突破

供稿人:杜渐供稿时间:2024-10-25 16:09:30关键词:光刻机

99日,工信部发布《首台(套)重大技术装备推广应用指导目录(2024年版)》,国产KrFArF光刻机入选该目录名单。在海外不断扩大对我光刻设备出口管制的背景下,两台国产光刻机推出具有重要意义。目录中KrF光刻机针对12英寸晶圆设计,工作波长248nm,分辨率≤110nm,套刻精度≤25nmArF光刻机针对12英寸晶圆设计,工作波长193nm,分辨率≤65nm,套刻精度≤8nm。不过,上述机器仍是干式ArF光刻机,性能指标与ASML公司在2015年二季度出货的TWINSCAN XT 1460K型号光刻机性能相当,与国外最新产品还有差距,其分辨率、套刻精度仍不能满足先进工艺的要求。一般来说,10nm 工艺要求套刻精度≤3nm7nm工艺要求≤2nm;同时,先进工艺要求分辨率≤38nm,而该机器的分辨率≤65nm。虽然该ArF光刻机可以通过多次曝光实现55nm-65nm制程,但其套刻精度不足会导致良率难以控制,并严重影响生产效率。

海外三大厂商光刻机产品型号


参考资料:

1.https://wap.miit.gov.cn/zwgk/zcwj/wjfb/tz/art/2024/art_2fd2b3eff1f64c9fa27d635932a464ee.html.访问于20241028

2.https://www.slkormicro.com/semiconductor-industry/767282.html.访问于20241028